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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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PRODUCT CENTER
gentec-eo激光功率計(jì)和能量計(jì)在這個(gè)領(lǐng)域擁有超過(guò)45年的歷史。 Gentec-EO功率計(jì)的UP17-H/W系列具有薄外殼、智能界面。憑借45年的記錄以及從工廠到醫(yī)院和實(shí)驗(yàn)室提供激光功率和能量測(cè)量...
在硅太陽(yáng)能電池板的生產(chǎn)過(guò)程中，硅晶體中的應(yīng)力在制作過(guò)程中往往沒(méi)有被檢測(cè)到，我們描述了一種測(cè)量硅錠的應(yīng)力雙折射檢測(cè)，它可以是方形的，也可以是生長(zhǎng)的，然后被鋸成硅片，當(dāng)這臺(tái)儀器被用作質(zhì)量控制工具時(shí)，在后續(xù)...
加拿大Gentec-EO是激光功率計(jì)能量計(jì)供應(yīng)商。UP -50W系列：50 mm Ø, 5 mW – 85 W, 100 kW/cm2。$n主要特點(diǎn)：$n1.模塊化概念$n增加您探頭的功率能...
Gentec Electro Optics提供全系列產(chǎn)品以滿足您的脈沖能量測(cè)量需求。Gentec-EO激光能量計(jì)從精益和便攜式QE12和QE25系列，大光圈QE50、QE65和QE95系列到我們的大型...
加拿大Gentec-EO 推出激光功率計(jì)能量計(jì)表頭，為擁有完整的激光功率測(cè)量系統(tǒng)，您將需要一款采集與讀出設(shè)備搭配您的功率探測(cè)器。我們提供不同功能的設(shè)備以滿足需求。無(wú)論您希望在大型觸摸顯示屏彩色 LCD...
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器（ PE...
ENTERPRISE ADVANTAGE
選擇我們就是選擇高品質(zhì)，我們是您的信賴之選！
非接觸式、非破壞性，實(shí)時(shí)在線測(cè)量或離線測(cè)量
可單次測(cè)量多層膜，可測(cè)20層
探針靈活配置，實(shí)現(xiàn)多個(gè)不同目標(biāo)測(cè)量
測(cè)試速度快，適用范圍廣
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北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司成立于2010年，專業(yè)代理歐美（德國(guó)、瑞士、美國(guó)、波蘭等）高精度的光學(xué)檢測(cè)設(shè)備，致力于為科研和工業(yè)客戶提供光學(xué)檢測(cè)解決方案及包括售前、售中及售后在內(nèi)的服務(wù)。主要包括：光學(xué)檢測(cè)產(chǎn)品：應(yīng)力雙折射、折射率、弱吸收、反射率、散射等測(cè)量系統(tǒng)/剪切干涉儀/非接觸式測(cè)厚儀/測(cè)角儀/可調(diào)相位延遲波片等；激光檢測(cè)產(chǎn)品：激光功率計(jì)、能量計(jì)及光束質(zhì)量分析儀等；集成系統(tǒng)所需的激光器、步進(jìn)位移平臺(tái)、偏振光轉(zhuǎn)換器等顯微系統(tǒng)所需的XYZ電動(dòng)載物臺(tái)、波片進(jìn)片機(jī)、高速相機(jī)ICCD、像增強(qiáng)器300ps門(mén)...
技術(shù)支持
TCEHNICAL SUPPORT
光束質(zhì)量分析儀基本的工作原理是通過(guò)對(duì)光束橫截面上的光強(qiáng)分布進(jìn)行測(cè)量和分析。當(dāng)光束照射到分析儀的探測(cè)器表面時(shí)，探測(cè)器上的每個(gè)像素點(diǎn)會(huì)接收到不同強(qiáng)度的光信號(hào)，并將這...
7-22
角分辨散射儀能夠準(zhǔn)確測(cè)量樣品表面的微小變化和粗糙度，對(duì)表面細(xì)節(jié)的捕捉能力強(qiáng)，可提供高分辨率的測(cè)量結(jié)果，有助于深入研究材料的表面特性；在測(cè)量過(guò)程中，激光與樣品表面不直接接觸，避免了對(duì)樣品表面的物理?yè)p傷，保證了樣品的完整性，尤其適用于測(cè)量柔軟、易碎或表面精度要求高的材料。不僅可以測(cè)量表面粗糙度，還可以用于研究材料的晶體結(jié)構(gòu)、表面形貌、界面結(jié)構(gòu)、磁性以及納米材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)等多個(gè)方面，在材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)等眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用；角分辨系統(tǒng)的優(yōu)勢(shì)在于不僅能夠獲得某一接收角度下光...
7-18
自動(dòng)測(cè)角儀是一種利用光學(xué)、電子或機(jī)械技術(shù)自動(dòng)測(cè)量角度的高精度儀器，廣泛應(yīng)用于機(jī)械加工、航空航天、建筑測(cè)繪、科研實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域。其測(cè)角方法結(jié)合了自動(dòng)化技術(shù)與精密測(cè)量原理，以下從核心原理、操作步驟、關(guān)鍵技術(shù)及注意事項(xiàng)四個(gè)方面詳細(xì)介紹：一、核心測(cè)角原理自動(dòng)測(cè)角儀的測(cè)角方法主要基于以下技術(shù)原理，不同儀器可能采用單一或組合方式實(shí)現(xiàn)：光電編碼器技術(shù)原理：通過(guò)光電轉(zhuǎn)換將角度變化轉(zhuǎn)化為電信號(hào)。編碼器盤(pán)上刻有精密光柵，當(dāng)儀器旋轉(zhuǎn)時(shí)，光源照射光柵產(chǎn)生莫爾條紋，光電傳感器檢測(cè)條紋變化并輸出脈沖信號(hào)，通...
7-2
角分辨散射儀是一種用于測(cè)量材料表面粗糙度和微觀結(jié)構(gòu)的儀器，以下是其基本工作原理：1.光的散射現(xiàn)象：當(dāng)一束激光投射到樣品表面上時(shí)，會(huì)發(fā)生反射和散射現(xiàn)象。除了鏡向方向的反射光外，還會(huì)有散射光分布在一個(gè)半球面內(nèi)，且半球面內(nèi)各點(diǎn)的光強(qiáng)不同。2.探測(cè)器接收信號(hào)：使用具有小但有限孔徑的探測(cè)器，沿著試樣周?chē)娜⑸淝蛏辖邮者@些不同分布的光強(qiáng)。探測(cè)器通常可以圍繞樣品在入射平面內(nèi)作接近180°或360°的轉(zhuǎn)動(dòng)，從而測(cè)得非入射平面內(nèi)的散射光。3.數(shù)據(jù)處理與分析：接收到的光強(qiáng)信號(hào)經(jīng)過(guò)統(tǒng)計(jì)學(xué)和光譜分...
新聞中心
NEWS CENTER
摘要激光技術(shù)在科研、工業(yè)制造、醫(yī)療等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。為了確保激光設(shè)備的性能和安全性，準(zhǔn)確地測(cè)量激光輸出功率顯得尤為重要。本文將詳細(xì)介紹激光功率計(jì)的工作原...
6-18
當(dāng)光進(jìn)入Lumetrics測(cè)厚儀的干涉儀后，輸入光被等比例分束成為兩束光。這兩束光頻率相同、振動(dòng)方向相同，但具有穩(wěn)定的相位差，并沿不同光路傳播。在輸出端重新匯合疊加時(shí)，會(huì)出現(xiàn)光的干涉現(xiàn)象。光強(qiáng)在疊加區(qū)域內(nèi)不是均勻分布，而是在數(shù)值之間逐點(diǎn)變化，可能超過(guò)兩光束之和，小值可能是零。通過(guò)分析這種干涉條紋的變化，可以準(zhǔn)確地測(cè)量出被測(cè)物體的厚度。Lumetrics測(cè)厚儀優(yōu)點(diǎn)：-非接觸式測(cè)量：它不需要與被測(cè)物體直接接觸，避免了傳統(tǒng)接觸式測(cè)量可能對(duì)物體表面造成的劃傷、磨損等損害，尤其適用于測(cè)...
5-8
激光測(cè)厚儀是一種基于激光技術(shù)的高精度非接觸式測(cè)量設(shè)備，通過(guò)發(fā)射激光束并捕捉反射信號(hào)，實(shí)現(xiàn)對(duì)材料厚度的實(shí)時(shí)、動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)。其核心優(yōu)勢(shì)在于突破傳統(tǒng)接觸式測(cè)量的局限，以微米級(jí)精度滿足現(xiàn)代工業(yè)對(duì)品質(zhì)控制的嚴(yán)苛需求，成為航空航天、汽車(chē)制造、新能源等領(lǐng)域的核心檢測(cè)工具。一、技術(shù)原理：雙傳感器對(duì)射與三角測(cè)距的精密融合激光測(cè)厚儀的核心技術(shù)可分為兩大體系：雙激光位移傳感器對(duì)射法與三角測(cè)距原理。雙傳感器對(duì)射法：設(shè)備上下各配置一臺(tái)激光位移傳感器，分別測(cè)量被測(cè)物體上表面與下表面的空間坐標(biāo)。通過(guò)計(jì)算兩傳感...
3-17
應(yīng)力雙折射檢測(cè)是一種重要的光學(xué)檢測(cè)技術(shù)，它基于應(yīng)力對(duì)材料光學(xué)性質(zhì)的影響，通過(guò)測(cè)量光線在應(yīng)力作用下的偏折現(xiàn)象來(lái)評(píng)估材料的應(yīng)力狀態(tài)。應(yīng)力雙折射，又稱光彈性效應(yīng)，是指透明的各向同性介質(zhì)在受到壓力或張力的作用時(shí)，其折射率特性會(huì)發(fā)生變化，從而顯示出光學(xué)上的各向異性。這種現(xiàn)象導(dǎo)致光線在穿過(guò)應(yīng)力場(chǎng)時(shí)會(huì)發(fā)生偏折，且偏折程度與應(yīng)力大小成正比。當(dāng)材料受到外力作用時(shí)，其內(nèi)部分子結(jié)構(gòu)會(huì)發(fā)生變化，導(dǎo)致電性質(zhì)也發(fā)生變化，進(jìn)而影響到光線的折射率。這種折射率的變化使得光線在穿過(guò)材料時(shí)發(fā)生偏折，形成應(yīng)力雙折射...
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激光測(cè)量